سه شنبههای با طعم مالکیت فکری؛ وبینار آموزشی و تخصصی؛ “استخراج راهکارهای فنی از اسناد اختراع”
ریحانه گلستانی
کارشناس ثبت اختراع
سرفصلهای وبینار:
– مقدمهای بر پتنت
– چرا باید پتنتها را تحلیل کرد؟
– فرایند انجام یک پروژه تحلیل پتنت به چه صورت است؟
– تحلیل دادههای پتنت؛ از شناسایی روندها تا بررسی فناوریها
– از تحلیل پتنت تا حل چالش فنی
سهشنبه ۵ آبان ۱۴۰۵
ساعت ۱۴ تا ۱۶
از علاقه مندان محترم دعوت می شود برای ثبت نام در این وبینار به آدرس زیر مراجعه نمایند.